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iPhone Duo防尘测试翻车 铰链进灰磁吸失效(图)

   日期:2026-10-25 23:40:19     来源:互联网    作者:56之窗资讯网    浏览:79    
核心提示:知名数码博主JerryRigEverything发布了iPhone Duo的耐用性测试视频,这款折叠机在防尘环节表现不佳。尽管标注有IP68防尘等级,粉尘仍能通过铰链缝隙进入机身内部

知名数码博主JerryRigEverything发布了iPhone Duo的耐用性测试视频,这款折叠机在防尘环节表现不佳。尽管标注有IP68防尘等级,粉尘仍能通过铰链缝隙进入机身内部。测试中,博主将机器置于充满粉尘的环境中,结果发现粉尘顺着铰链缝隙钻进机身,影响了闭合磁吸结构,导致原本能正常吸附合上的机身失去磁吸功能,无法稳定闭合。

iPhone Duo防尘测试翻车

接下来的弯折耐久测试中,内屏出现了新的问题:先是屏幕出现永久性绿线,随后触控功能完全失灵,无法正常操作。折叠屏的密封一直是行业难题,需要保证铰链反复开合的同时做好防尘防水,两者很难兼顾。许多国产折叠机型会在铰链防尘上设计专门的防护结构。

iPhone Duo防尘测试翻车 铰链进灰磁吸失效

iPhone Duo防尘测试翻车 铰链进灰磁吸失效

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标签: iPhoneDuo防尘测试翻车
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